Die digitale I/O-Baugruppe verfügt über individuell konfigurierbare Ein- und Ausgänge. Die Ausgänge können wahlweise als High-Side-, Low-Side- oder Push/Pull-Treiber eingesetzt werden. Durch die hohen Spannungsbereiche ist die Baugruppe auch für spezielle Anforderungen im automobilen Umfeld geeignet.
Die Baugruppe ist bestmöglich ausgestattet für die Verwendung in rauer Umgebung. Anwendungsgebiete sind unter anderem Prüfstände, HIL-Systeme und der mobile Einsatz.
In Zusammenarbeit mit SMART TESTSOLUTIONS hat die ZF Friedrichshafen AG eine neue Prüfstandsgeneration entwickelt, die sich durch eine außerordentliche Flexibilität auszeichnet und dank einer schlanken Skriptsprache und spezieller Treiber leicht zu konfigurieren ist. Bei der Entwicklung des Systems konnten die Partner auf das bestehende Programm optimierter Systembaugruppen für die Messwerterfassung, Last- und Sensorsimulation zurückgreifen, was sich positiv auf die Kosten ausgewirkt hat. Lesen Sie mehr zu Aufgabenstellung und Lösung in unserem Anwenderbericht.
